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抽絲剝繭,詳細介紹金屬射線探傷的原理_拜恩檢測-專業第三方檢測機構

發表時間:2019-09-12   來源:

理論上,X射線或γ射線透照或透視用于檢測金屬成品和半成品中的內部宏觀缺陷,統稱為射線探傷檢測。這種方法用于金屬零件檢測內部缺陷,主要是在使用光線通過零件后,光線的強度會不同程度地減弱。根據弱化情況,可以判斷缺陷的位置,形狀,大小和嚴重程度。 

 

 X射線和γ射線,如可見光和無線電波一樣,屬于電磁波。它們基本相同,具有相同的傳播速度,但具有不同的頻率和波長,并且射線的波長短且頻率高。 X射線由特殊類型的X射線管產生。從陰極燈絲發射的高速電子撞擊在陽極靶上,并且一些電子在核場中被急劇阻擋,導致內部電子轉變以產生x射線。 γ射線由放射性同位素(例如鈷60,銥192,銫137,銩170等)產生。放射性同位素是一種不穩定的同位素。它處于激發狀態,其原子核的能級高于基準能級。在釋放y射線的同時改變基準水平。 

 

 X射線和Y射線都具有穿透物質的能力。較大的能量(較短波長)射線在穿透材料時吸收較少,稱為硬輻射(或硬射線);具有較小能量(較長波長)的光在穿透物質時被更多地吸收,稱為軟輻射(或軟射線),X射線通常屬于硬射線范圍。射線穿透物質時的能量損失稱為能量衰減。能量的衰減主要是光電子的形成(光電效應)和射線能量的吸收,其次是彈性碰撞(所謂的湯姆遜效應)和非彈性碰撞(即康普頓)和散射引起的射線能量的吸收。除了形成電子對外,還能吸收射線的能量。

射線探傷就是利用射線通過物質被不同程度的吸收這一原理, 來檢驗金屬制件中的缺陷的。 探傷過程可以用下圖  來簡要地加以說明。 

探傷原理圖

圖中 1為射線源, 2為被檢驗物體,3 為物體內缺陷(氣孔),4 為照相底片,5為透照到底片上的射線的強度或感光并沖洗后底片的黑度。 顯然, 被檢驗物體中的缺陷的類型、 形狀、 大小和部位等,可以從底片上的影子加以判別。

 

需要提出的是,在射線探傷工作中,主要是利用物質對射線的吸收這一性能。 物質對射線的散射,對探傷工作不僅無益,反而有不利的影響。

 

 

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